Le plateau technologique Diffraction des rayons X met à disposition des équipements et une expertise dédiés à la caractérisation structurale des matériaux. Il permet d’analyser l’organisation de la matière, d’identifier les phases présentes et d’accéder à des informations fines sur l’état mécanique et la microstructure, depuis le volume jusqu’aux couches minces.
Prestations et domaines d’application
Analyse d’échantillons polycristallins (DRX)
Le plateau réalise des mesures de diffraction sur échantillons polycristallins pour :
- identifier les phases et caractériser la composition cristalline ;
- suivre des transformations (traitements thermiques, vieillissement, cycles de fabrication) ;
- comparer des séries d’échantillons et contrôler la répétabilité.
SAXS (Small-Angle X-ray Scattering)
Les mesures SAXS permettent d’étudier l’organisation à l’échelle nanométrique, notamment pour :
- analyser la taille, la forme et la distribution de nanostructures ;
- caractériser des matériaux poreux, composites ou polymères structurés.
Mesures de surface et couches minces
Incidence rasante : contraintes résiduelles, textures
La diffraction en incidence rasante est utilisée pour l’étude des couches proches de la surface, afin de :
- mesurer les contraintes résiduelles ;
- déterminer des textures et orientations préférentielles ;
- investiguer l’impact des procédés (usinage, traitements de surface, dépôts, fabrication additive, etc.).
Réflectométrie X
La réflectométrie complète ces analyses pour caractériser des couches minces, notamment :
- épaisseur(s) et empilements ;
- rugosité interfaciale ;
- densité électronique (indicateur de compacité).
Diffraction haute résolution
Le plateau propose des mesures de diffraction haute résolution pour accéder à des informations fines sur :
- l’état cristallin (défauts, microcontraintes, paramètres de maille) ;
- les variations subtiles de structure ou de composition ;
- des matériaux à microstructures complexes nécessitant une grande précision de mesure.
Pour qui ?
Le plateau s’adresse :
- aux équipes de recherche (projets, thèses, publications) ;
- aux partenaires industriels (R&D, contrôle/validation, comparaison de procédés) ;
- aux projets nécessitant une caractérisation structurale fiable et reproductible.
Modalités d’accès
Selon le besoin, le plateau peut intervenir en :
- prestation de mesure (préparation, acquisition, premier niveau d’analyse) ;
- accompagnement (choix des protocoles, interprétation, campagnes d’essais).
Contact
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