Plateau de caractérisation

Caractérisations Multiphysiques des microstructures et des propriétés de Surfaces (CMS)

Vincent BARNIER

Ingénieur de recherche CNRS (responsable de la plateforme CMS)
Numéro de téléphone
+33 4 77 49 97 46

Plateau dédiée à l’analyse chimique et micro-mécanique des surfaces et interfaces, équipée de spectroscopies XPS/AES, de microscopies électroniques (MEB, MET, EBSD, EDX), AFM, goniophotométrie, infrarouge, nano-indentation.