Le plateau CMS regroupe les moyens de caractérisation permettant d’accéder à des informations chimiques, structurales et microstructurales sur des échelles allant de la centaine de micron jusqu‘au nanomètre. Ce plateau offre des outils d’analyses performants en soutien des activités de recherche du laboratoire et des demandes d’expertises provenant de partenaires académiques et industriels notamment comme le vieillissement et l’endommagement des matériaux (ségrégation/diffusion d’éléments traces dans les métaux), la mise en forme des matériaux (évolution microstructurale et recristallisation), le comportement mécanique à l’échelle locale ou le rendu visuel et tactile d’une surface.
Le fonctionnement de ce plateau est assuré par 3 ingénieurs et 2 techniciens.
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Responsable
- Vincent Barnier
barnier@mines-stetienne.fr
Animateurs
- Sergio Sao Joao
- Marilyne Mondon
- Yoann Garnier
Analyses de surface
Spectroscopie de photoélectrons
Spectroscopie Auger
Microscopie à force atomique
Micro/nano mécanique
Nanoindentation
Micromécanique in-situ
Microscopie à force atomique
Microscopie électronique
Microscopie électronique à balayage
Microscopie électronique à transmission
Analyse chimique et microstructurale
Propriétés d’aspect des surfaces
Rendu visuel
Rendu tactile
Préparation de surface