Le plateau d’analyses par rayons X a pour objectif de caractériser les matériaux issus de la recherche du LGF.
Deux techniques sont représentées.
La tomographie par absorption de rayons X est une technique non destructive d’imagerie, consistant à reconstruire en trois dimensions le volume d’un objet. On visualise ensuite les défauts (pores, fissures) et les hétérogénéités présentes dans l’objet analysé.
La diffraction des rayons X sur poudres ou sur échantillons massifs renseigne sur l’état cristallin du matériau. L’interprétation des mesures, à l’aide de logiciels (DIFFRAC EVA, TOPAS, HighScore…) et de bases de données (PDF-4+ de ICDD, COD), permet de déterminer les phases présentes, leurs textures et les contraintes résiduelles.
Équipements disponibles
- Tomographie
- Tomographe GE Nanotom 180
- Diffractomètres disponibles :
- Bruker D8A25 avec passeur d’échantillons,
- Bruker D8Advance avec chambre haute température,
- PANalytical XPertPro MPD et MRD avec berceau d’Euler (optiques sources Cu et Co),
- MRX XRaybot.
Bruker D8A25 avec passeur d’échantillons
MRX XRaybot – contraintes résiduelles