Centre SPIN – Génie des Procédés

Instruments de caractérisation

Analyse géométrique (surface et volume)

  • Imagerie
    • Microscopie optique
    • Traitement et analyse d’images
    • Caméra rapide
    • AFM – Microscope à Force Atomique (paratagé)
    • Profilométrie
    • MEB – Microscopie Electronique à Balayage (paratagé)
    • MET – Microscopie Electronique à Transmission (conventionelle ou in-situ) (partagé)
    • Micro Tomographie 3D par rayons X
    • Synchrotron @ ESRF-Grenoble (accès)
  • Mesure de taille
    • Surface spécifique BET
    • Pycnométrie Hélium
    • Granulométrie Laser
    • Porosimétrie par intrusion de mercure

Analyse thermique

Analyse chimique

Analyse électrique

  • Microscopie à Force Electrique EFM (partagé)
  • Cage de Faraday + électromètre
  • Spectroscopie d’impédance complexe

Analyse acoustiques / vibrations

  • Emission acoustique
  • Transducteurs ultrasoniques + générateurs de signaux
  • Emetteur/récepteur de pulses
  • Mesure de temps de vol
  • Pots vibrants électromagnétiques

Analyse mécanique

Analyse de terrain

  • GPS
  • Conductimétrie