Centre SPIN – Génie des Procédés

Diffraction des rayons X

Bruker D8A25

Bruker D8Advance avec chambre haute température HTK16 d’Anton Paar

La diffraction des rayons X permet de déterminer l’arrangement atomique d’une structure cristallisée, et donc d’identifier la nature des phases présentes dans un échantillon. Cet échantillon peut se présenter sous la forme d’une poudre (grains de taille d’environ 10 à 20µm dans l’idéal) ou d’un petit échantillon massif. Une évaluation quantitative est possible dans le cas d’échantillons bien cristallisés. L’étude en chambre haute température est un moyen pour caractériser les transformations structurales au cours d’un traitement thermique.      

Caractéristiques principales :

  • Rayonnement Cuivre (lKa1=1,5406 Å)
  • Optique primaire : au choix, fente de divergence motorisée ou miroir de Göebel pour D8A25, système optique fixe pour D8Advance
  • Passeur d’échantillons AUTO CHANGER avec platine tournante pour D8A25, chambre chauffante avec barreau en platine pour D8Advance
  • Couteau anti-diffusion motorisé permettant de s’affranchir du fond diffusé (D8A25)
  • Détecteur Lynxeye XE-T pour D8A25, scintillateur précédé d’un monochromateur pour D8Advance
  • Exploitation des résultats : Diffrac.EVA, Topas V6, base de données PDF4+ et COD

Pour plus d’information, veuillez contacter Olivier Valfort à l’adresse suivante : valfort@emse.fr